-
- F10-RTFilmetrics薄膜厚度測量儀
Filmetrics薄膜厚度測量儀以真空鍍膜為設計目標，F10-RT 薄膜厚度測量儀只要單擊鼠標即可獲得反射和透射光譜。 只需簡單操作。用戶就能進行 FWHM 并進行顏色分析。 可選的厚度和折射率模塊讓您能夠充分利用Filmetrics F10-RT 薄膜厚度測量儀的分析能力。測量結果能被快速地導出和打印。
- 型號：F10-RT
- 更新日期：2025-09-12 ￥面議
-
- F20Filmetrics 單點光學膜厚測量儀
無論您是想要知道薄膜厚度、光學常數，還是想要知道材料的反射率和透過率，Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀都能滿足您的需要。僅需花費幾分鐘完成安裝，通過USB連接電腦，設備就可以在數秒內得到測量結果?；谀K化設計的特點，Filmetrics F20 單點光學膜厚測量儀適用于各種應用。
- 型號：F20
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
-
- F40Filmetrics 光學膜厚測量儀
Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀的光譜測量系統讓用戶簡單快速地測量薄膜的厚度和光學常數，通過對待測膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內就可測量結果。當測量需要在待測樣品表面的某些微小限定區域進行，或者其他應用要求光斑小至1微米時，可以使用Filmetrics F40 薄膜厚度測量儀。使用先校正顯微鏡的物鏡，再進行測量，即可獲得厚度及光學參數值。
- 型號：F40
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
-
- F50Filmetrics 光學膜厚測量儀自動化MAPPING
Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀依靠光譜測量系統，可以簡單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，可以快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非?？焖伲蠹s每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。Filmetrics F50 自動Mapping膜厚測量儀配置精度高使用壽命長的移動平臺，以求能夠做成千上萬次測量。
- 型號：F50
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
-
- F54-XY-200Filmetrics 自動光學膜厚測量儀
Filmetrics 自動光學膜厚測量儀借助光譜反射系統，可以測量尺寸達200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動XY工作臺自動移動到選定的測量點并提供厚度測量，達到每秒兩點。您可以從數十種預定義的極性，矩形或線性測量坐標圖案中選擇，也可以創建自己編輯的測量點數量。此桌面系統只需幾分鐘即可完成設置，任何具有基本計算機技能的人都可以使用。
- 型號：F54-XY-200
- 更新日期：2025-09-23 ￥面議
-
- F20-UV/F20-NIR/F20-EXRFilmetrics F20 白光干涉測厚儀
Filmetrics F20 白光干涉測厚儀儀是一款高精度、多功能的測量設備，能夠快速測定薄膜厚度、光學常數、反射率和透過率等特性。其非接觸式測量方式適合各種脆弱或敏感材料，具備納米級分辨率，測量范圍廣（1nm-3mm）。該儀器適用于多種應用場景，包括半導體、光學、生物醫學等領域。F20膜厚儀可在數秒內提供準確的測量結果，支持單層及多層薄膜分析，為科研和工業生產提供可靠支持。
- 型號：F20-UV/F20-NIR/F20-EXR
- 更新日期：2025-09-12 ￥面議
-
- K系列Bowman XRF高精度鍍層測量儀
Bowman XRF高精度鍍層測量儀，Bowman博曼 K系列 XRF高精度涂層測量系統，具備12英寸×12英寸的測量區域，適用于多種樣品檢測。
- 型號：K系列
- 更新日期：2025-09-23 ￥面議
-
- B系列Bowman XRF高精度鍍層測厚儀
Bowman B系列 XRF高精度鍍層測量系統是博曼的基礎機型和常規機型。該型號采用自上而下的測量方式。配備固定樣品臺可實現手動操作。測量時將樣品放入樣品倉，通過觀察視頻圖像來對準屏幕上十字線內的位置來完成測量。
- 型號：B系列
- 更新日期：2025-06-24 ￥面議
